[发明专利]一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法有效
| 申请号： | 201210158310.7 | 申请日： | 2012-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN102654392A | 公开（公告）日： | 2012-09-05 |
| 发明（设计）人： | 王昭;汤善治;高建民;钟丽红;郭俊杰 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法，该装置包括双频激光器、1/2波片和两套角锥棱镜阵列；在双频激光器的光轴后设置分光棱镜，分光棱镜的反射光轴上设第一检偏器和第一光电接收器；分光棱镜的透射光轴上设1/4波片；1/2波片位于两套角锥棱镜阵列中间；在两套角锥棱镜阵列的出射光轴上设直角反射棱镜，在直角反射镜的反射光轴上设第二检偏器和第二光电接收器；第一光电接收器和第二光电接收器的输出端连接相位计。本发明将探测元件置于两套角锥棱镜阵列中，从而有效地将用于位移测量的阵列式多次反射法应用于滚转角测量。不仅可克服传统激光干涉法难以测量与激光束方向垂直的滚转角问题，而且与现有技术相比，具有更高滚转角测量分辨率的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 阵列 多次 反射 转角 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置，其特征在于，包括双频激光器（1）、1/2波片（7）和两套角锥棱镜阵列；在所述双频激光器（1）的光轴后设置有分光棱镜（2），所述分光棱镜（2）的反射光轴上设有第一检偏器（3）和第一光电接收器（4）；所述分光棱镜（2）的透射光轴上设有1/4波片（5）；所述1/2波片（7）位于两套角锥棱镜阵列中间；在两套角锥棱镜阵列的出射光轴上设有直角反射棱镜（8），在直角反射镜（8）的反射光轴上设有第二检偏器（9）和第二光电接收器（10）；所述第一光电接收器（4）和第二光电接收器（10）的输出端连接有相位计（11），所述相位计（11）连接至计算机（12）。
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