[发明专利]一种孔位置度检测装置无效
申请号: | 201210160597.7 | 申请日: | 2012-05-23 |
公开(公告)号: | CN102706231A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 张义平;朱学超;尚广庆;张红兵 | 申请(专利权)人: | 苏州市职业大学 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人: | 张一鸣 |
地址: | 215104 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种孔位置度检测装置,该孔位置度检测装置包括底座、基准块、检验棒,所述基准块通过螺栓固定于底座上,基准块为圆盘体的侧边带有一个径向的小凸台,圆盘体的上平面带有环行基准面,环行基准面与待检测件的内面配合贴紧,圆盘体的中心设有基准轴,基准轴与待检测件的中心孔配合,基准轴和环行基准面之间设有避让凹槽;小凸台的上平面与环行基准面在同一平面内,小凸台的上平面设有检测孔,检测孔对应于待检测件上的待检孔,检测孔内插有检验棒。通过上述方式,本发明其设计结构简单实用,便于工厂生产中的大批量快速检测小孔轴线相对于基准的位置度是否合格,大大提高生产检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 位置 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种孔位置度检测装置,其特征在于:该孔位置度检测装置包括底座、基准块、检验棒,所述基准块通过螺栓固定于底座上,基准块为圆盘体的侧边带有一个径向的小凸台,圆盘体的上平面带有环行基准面,环行基准面与待检测件的内面配合贴紧,圆盘体的中心设有基准轴,基准轴与待检测件的中心孔配合,基准轴和环行基准面之间设有避让凹槽;小凸台的上平面与环行基准面在同一平面内,小凸台的上平面设有基准孔,基准孔对应于待检测件上的待检孔,基准孔内插有检验棒。
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