[发明专利]一种测定纯Hf中痕量元素钠的方法有效
申请号: | 201210167168.2 | 申请日: | 2012-05-25 |
公开(公告)号: | CN102706815A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 任慧;杨春晟;叶晓英 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N1/38 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 陈宏林 |
地址: | 10009*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于纯金属痕量元素分析技术,涉及一种测定纯Hf中痕量元素钠的方法。本发明采用火焰原子吸收光谱法测定纯Hf中痕量元素钠,分析范围为0.001%~0.005%。用盐酸、硝酸和氢氟酸处理纯Hf试样,优化了测量条件,着重研究干扰及其控制的方法,选择氯化铯作为电离抑制剂,对溶解酸用量和基体干扰进行影响试验并进行严格的控制,采用标准加入法测量钠的含量。研究建立的测定纯Hf中痕量元素Na的方法准确可靠,可以满足科研生产的要求;方法检测下限低,测量下限为0.001%;采用氯化铯作为电离抑制剂,消除电离效应,同时改善测量灵敏度;该技术方法测量快速,操作简便,节约了大量人力和物力。 | ||
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【主权项】:
一种测定纯Hf中痕量元素钠的方法,其特征在于:该方法在测定过程中使用的试剂有:氯化铯溶液:溶液中铯的质量‑体积浓度是10mg/mL,制备方法是称取2.53g光谱纯的氯化铯,置于100mL烧杯中,加水溶解,移入200mL容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀;Na标准溶液Ⅰ:质量‑体积浓度是0.10mg/mL,制备方法是称取0.2541g预先经550℃灼烧2h并在保干器中冷至室温的氯化钠,氯化钠的质量分数不小于99.95%,置于250mL烧杯中,加水溶解,补加20mL的MOS级盐酸,移入1000mL容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀,移入干燥的塑料瓶中保存;Na标准溶液Ⅱ:质量‑体积浓度是2μg/mL,制备方法是移取钠标准溶液Ⅰ20.00mL,置于1000mL容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀;盐酸:MOS级;硝酸:MOS级;氢氟酸:优级纯;该方法的测定过程的步骤是:(1)制备试样溶液:称取0.20g纯Hf试料,精确到0.0001g,纯Hf质量分数不小于99.99%;将纯Hf试料置于150mL聚四氟乙烯烧杯中,依次加入5~8mL盐酸、2mL~6mL硝酸、5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,溶解完全后,冷却至室温,移入25mL塑料容量瓶中;(2)制备标准加入工作曲线溶液取不少于4份的试样溶液,加入Na标准溶液Ⅱ,其中3份试样溶液中的加入量为0、0.5mL、5mL,其它试样溶液中的加入量为0.5mL~5mL,然后在上述全部试样溶液中加入1~5mL氯化铯溶液,以水稀释至刻度,摇匀;(3)测量标准加入工作曲线溶液中Na的含量采用原子吸收光谱法,在Na 589.0nm波长处,依次测量标准加入工作曲线溶液中Na的吸光度,横坐标用标准加入工作曲线溶液中Na的含量,纵坐标用标准加入工作曲线溶液中Na的吸光度,绘制工作曲线,得到该曲线与横坐标交点值,记为Na1;(4)制备试剂空白标准加入工作曲线溶液在150mL聚四氟乙烯烧杯中,加入5~8mL盐酸、2mL~6mL硝酸、5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,溶解完全后,冷却至室温,移入25mL塑料容量瓶中;取不少于4份的该溶液,加入Na标准溶液Ⅱ,其中3份试样溶液中的加入量为0、0.5mL、5mL,其它试样溶液中的加入量为0.5mL~5mL,然后在上述全部试样溶液中加入1~5mL氯化铯溶液,以水稀释至刻度,摇匀;(5)测量试剂空白标准加入工作曲线溶液中Na的含量采用原子吸收光谱法,在Na589.0nm波长处,依次测量试剂空白标准加入工作曲线溶液中Na的吸光度,横坐标用试剂空白标准加入工作曲线溶液中Na的含量,纵坐标用试剂空白标准加入工作曲线溶液中Na的吸光度,绘制工作曲线,得到该曲线与横坐标交点值,记为Na2;(6)计算纯Hf中Na元素的含量WNa,数值以%表示WNa=Na1‑Na2。
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