[发明专利]一种用于纳米表面形貌在线测量的集成系统有效
申请号: | 201210167843.1 | 申请日: | 2012-05-28 |
公开(公告)号: | CN102679906A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 杨树明;胡庆杰;韩枫;李磊;张坤;蒋庄德 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种用于纳米表面形貌在线测量的集成系统。该系统由集成光子芯片和测量探头两个主要部分组成,光子芯片由基于纳米线阵列的可调谐激光器、集成波导型光隔离器、基于表面等离子体的光耦合器和光探测器集成产生,而测量探头由准直透镜、光栅、物镜和参考镜组合而成。光子芯片和测量探头通过光纤连接。测量系统将具有尺寸小、结构紧凑、集成度高、整体性和灵活性良好等特点,对于实现纳米表面形貌在线测量具有很大的优势。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 纳米 表面 形貌 在线 测量 集成 系统 | ||
【主权项】:
一种用于纳米表面形貌在线测量的集成系统,其特征在于:主要包括集成光子芯片和测量探头;集成光子芯片上集成了基于纳米线阵列的可调谐激光器(1)、集成波导型光隔离器(2)、基于表面等离子体光耦合器(3)和光探测器(4);测量探头由准直透镜(8)、光栅(9)、物镜(10)和参考镜(11)组成;激光器(1)发出的光经过光隔离器(2)和光耦合器(3)后从光子芯片输出,经过准直透镜(8)后平行入射到光栅(9)上并发生衍射,然后分别入射到参考镜(11)和经由物镜(10)入射到被测物体表面上;两束光分别由参考镜(11)和被测物体(12)表面反射后在光栅(9)处发生干涉,通过准直透镜(8)再次进入光子芯片,经过耦合器(3)回到探测器(4),探测器(4)把光信号转换成电信号并输出,通过控制单元(6)控制激光器(1)和探测器(4),并通过数据采集单元(5)对输出信号进行采集并输入计算机(7)进行处理得到被测物体表面形貌信息。
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