[发明专利]一种辐射计上用的新型精密光阑无效

专利信息
申请号: 201210169290.3 申请日: 2012-05-28
公开(公告)号: CN102721475A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 王玉鹏;方茜茜;方伟;王凯 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J5/08 分类号: G01J5/08
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种辐射计上用的新型精密光阑涉及光辐射测量领域,具体涉及一种与辐射吸收腔配合使用的新型精密光阑,解决了辐射计中入射光能量损失的问题。该精密光阑包括刃口形入射孔径、半球形包覆和机械支撑,机械支撑的底面为环形底面,环形底面的圆心在刃口形入射孔径的轴线上,刃口形入射孔径的轴线与机械支撑的环形底面及机械支撑上表面垂直,的机械支撑的环形底面的内表面、机械支撑上表面和半球形包覆采用机械抛亮。本发明采用半球形包覆将逃离辐射吸收腔的能量反射回辐射吸收腔内继续吸收,有效提高辐射计吸收率,减少辐射计中入射光能量损失,机械支撑上表面抛亮使入射到机械支撑上的光能量不影响体系的测量结果,提高辐射计的测量精度。
搜索关键词: 一种 辐射计 新型 精密 光阑
【主权项】:
一种辐射计上用的新型精密光阑,其特征在于,该精密光阑包括刃口形入射孔径(1)、半球形包覆(2)和机械支撑(3),所述的机械支撑(3)的底面为环形底面(4),所述环形底面(4)的圆心在刃口形入射孔径(1)的轴线上,所述刃口形入射孔径(1)的轴线与所述机械支撑的环形底面(4)及机械支撑上表面(5)垂直,所述的机械支撑(3)的环形底面(4)的内表面、机械支撑上表面(5)和半球形包覆(2)采用机械抛光。
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