[发明专利]测试系统、测试方法以及使用该测试系统的测试设备

摘要

一种控制测试设备测试电路板的测试系统。该测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组。该测试系统包括激发与测试对象及测试项目对应的测试指令的指令激发模块、关联匹配电路板的电路原理图与电路布线图以确定待测电路接点相对于探针的位置关系的电路关联模块、将与测试项目对应的测试仪表与探针连接的仪表选择模块、将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致的探针调节模块、将待测电路接点与探针对准的位置调节模块及提供测试环境并控制探针与待测电路接点接触进行测试测试控制模块。本发明还提供一种测试方法及使用该测试系统的测试设备。

主权项

一种测试系统，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试，所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，该测试系统包括：指令激发模块，用于根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令；电路关联模块，用于将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，以根据测试对象对应的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系，其中，所述电路关联模块还判断出该待测电路接点的电位；仪表选择模块，用于根据测试项目对应的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与所述探针连接；探针调节模块，用于将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致；位置调节模块，用于根据待测电路接点的电位及所述探针所连接的测试仪表的极性确定与所述探针对应的待测电路接点，并根据与该探针对应的待测电路接点相对于该探针的位置关系来调节该电路板位置以使得该待测电路接点与对应的探针对准；及测试控制模块，用于根据测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。