[发明专利]校正量子计数探测器中计数率漂移的方法和X射线系统有效
| 申请号： | 201210176072.2 | 申请日： | 2012-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN102809756A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | S.卡普勒 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种方法、一种电路布置以及一种X射线系统，特别是CT系统（1），其中为了校正具量子计数探测器元件（Dn，m）的电离辐射探测器的计数率漂移，这些探测器元件具有带有明显不同的能量门限（S1，S2，S3）的至少两个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）的组合，基于前面确定的计数率彼此的函数依赖关系并且在每个探测器元件使用至少一个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）作为参考的情况下对具有不同能量门限的各个其它计数器的计数率进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 量子 计数 探测器 漂移 方法 射线 系统 | ||
【主权项】：
一种用于在具有多个平面布置的量子计数探测器元件（Dn，m）的电离辐射探测器中校正计数率漂移的方法，其中每个探测器元件（Dn，m）具有带有明显不同的能量门限（S1，S2，S3）的至少两个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）的组合，所述能量门限被组合地分析以用于确定入射辐射剂量，其特征在于，基于前面确定的计数率彼此的函数依赖关系并且在每个探测器元件使用至少一个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）作为参考的情况下对具有不同能量门限的各个其它计数器的计数率进行校正。
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