[发明专利]基于C注入的Ni膜辅助SiC衬底石墨烯纳米带制备方法有效

专利信息
申请号: 201210176437.1 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN102674317A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 郭辉;赵艳黎;张玉明;汤晓燕;张克基 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: C01B31/02 分类号: C01B31/02;C30B29/02
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于C注入的Ni膜辅助SiC衬底石墨烯纳米带制备方法。其实现步骤是:先对SiC样片进行标准清洗;再制作由隔离带和离子注入带组成的掩膜板;然后对清洗后的SiC样片中离子注入带区域注入C离子;接着将SiC样片置于外延炉中通Ar气快速加热至1200-1300℃,恒温保持30~90min,使离子注入区域的SiC热解生成碳膜;再另取一Si片电子束沉积一层Ni膜;将生成的碳膜样片置于Ni膜上,并将它们一同置于Ar气中,在温度为900-1200℃下退火生成石墨烯纳米带;最后从石墨烯纳米带样片上取开Ni膜,在SiC衬底上得到隔离带和石墨烯纳米带相互交替组成的纳米材料。本发明工艺简单,安全性高,SiC热解温度较低,且生成的石墨烯纳米带表面光滑,连续性好,可用于制作微电子器件。
搜索关键词: 基于 注入 ni 辅助 sic 衬底 石墨 纳米 制备 方法
【主权项】:
一种基于C注入的Ni膜辅助SiC衬底石墨烯纳米带制备方法,包括以下步骤:(1)对SiC样片进行清洗,以去除表面污染物;(2)制作由隔离带和离子注入带组成的掩膜板,隔离带宽度为:100‑200nm,离子注入带宽度为:50‑200nm;(3)在清洗后的SiC样片中的离子注入带区域注入能量为15‑45keV,剂量为5×1014~5×1016cm‑2的C离子;(4)将注入C离子后的SiC样片放入外延炉中,调节外延炉中压强为0.5~1×10‑6Torr,快速加热至1200‑1300℃,然后通入流速为500‑800ml/min的Ar气,恒温保持30~90min,使离子注入带区域的SiC热解生成碳膜;(5)在Si基体上电子束沉积300‑500nm厚的Ni膜;(6)将生成的碳膜样片置于Ni膜上,再将它们一同置于流速为30‑150ml/min的Ar气中,在温度为900‑1200℃下退火10‑20min,使碳膜重构成石墨烯纳米带;(7)从石墨烯纳米带样片上取开Ni膜,在SiC衬底上得到隔离带和石墨烯纳米带相互交替组成的纳米材料。
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