[发明专利]触摸屏硬度的测试方法

摘要

本发明适用于触摸屏测试领域，提供了一种触摸屏硬度的测试方法，其包括如下步骤：进行低温储存及珠击测试；进行高温储存及珠击测试；于进行低温储存及珠击测试之前、进行低温储存及珠击测试之后及进行高温储存及珠击测试之后均进行常温条件下的常规性能检查及测试，如果触摸屏在常温条件下的常规性能检查及测试不合格，则整个测试终止。通过上述测试方法，可以快速检测出触摸屏在低温环境和在经过长期使用（高温）后的硬度是否满足使用要求。

主权项

一种触摸屏硬度的测试方法，其包括如下步骤：检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；提供一钢珠、一根玻璃导管及厚泡棉；将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设低温值，启动温度箱进行触摸屏低温储存测试；于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设高温值，启动温度箱进行触摸屏高温储存测试；于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录。