[发明专利]微波谐振腔检测防护层下金属结构腐蚀的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210179008.X 申请日: 2012-06-01
公开(公告)号: CN102706900A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 刘启达;尹应增;王献辉;刘马宝 申请(专利权)人: 刘马宝
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 弋才富
地址: 710049 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种微波谐振腔检测防护层下金属结构腐蚀的装置及方法,该装置包括自动网络分析仪,和自动网络分析仪依次相连接的频率扫描源、隔离器、调配器以及置于谐振腔体内的第一耦合探针,置于谐振腔体内的第二耦合探针通过同轴电缆依次和衰减器、调配器、隔离器、信号微处理器电路以及自动网络分析仪相连接,多个腐蚀程度指示灯也和自动网络分析仪相连接,谐振腔体下端开有谐振腔体开口;其方法为检测谐振腔空腔和检测对象在不同腐蚀程度的幅频特性,获得谐振频率、峰值功率及半功率带宽,得到了防护层下金属结构的腐蚀程度;具有结构简单、检测快速方便、可靠性高,能够实现对不同厚度的防护层下金属结构的腐蚀程度进行检测。
搜索关键词: 微波 谐振腔 检测 防护 金属结构 腐蚀 装置 方法
【主权项】:
一种微波谐振腔检测防护层下金属结构腐蚀的装置,其特征在于:包括自动网络分析仪(1),和自动网络分析仪(1)相连接的频率扫描源(2),和频率扫描源(2)依次相连接的隔离器(3)以及调配器(4),调配器(4)通过同轴电缆(5)和置于谐振腔体(6)内的第一耦合探针(7‑1)相连接,置于谐振腔体(6)内的第二耦合探针(7‑2)通过同轴电缆(5)依次和衰减器(12)、调配器(4)、隔离器(3)、信号微处理器电路(13)以及自动网络分析仪(1)相连接,多个腐蚀程度指示灯(14)也和自动网络分析仪(1)相连接,谐振腔体(6)下端开有谐振腔体开口(8),其中:自动网络分析仪(1)控制频率扫描源(2)、隔离器(3)、调配器(4)和谐振腔体(6)构成有源微波谐振腔;第二耦合探针(7‑2)、衰减器(12)、调配器(4)、隔离器(3)、信号微处理器电路(13)和腐蚀程度指示灯(14)构成微波信号处理系统。
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