[发明专利]Ⅱ类KDP晶体对红外光倍频最佳匹配状态的调节方法有效

专利信息
申请号: 201210180289.0 申请日: 2012-06-04
公开(公告)号: CN102707542A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 储玉喜;於亮红;梁晓燕;李儒新;徐至展 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G02F1/37 分类号: G02F1/37
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种Ⅱ类KDP晶体对红外光倍频最佳匹配状态的调节方法,所采用的器件包括He-Ne光源、小孔光阑、长焦透镜、洛匈棱镜、光电探头、示波器。该方法先利用辅助光源粗略调节KDP晶体的相位匹配角,然后将产生的微弱绿光经长焦透镜聚焦至洛匈棱镜,根据洛匈棱镜出射光的特点来调节KDP晶体的方位角,再借助光电探头和示波器精确调节KDP晶体的相位匹配角,直至二倍频输出最大。本发明的特点是巧妙地利用了洛匈棱镜的检偏特性来调节KDP晶体的方位角,方便在较弱的基频光下调节KDP晶体,不仅可以使得KDP晶体的倍频效率最优化,而且保证了倍频光的偏振态。本发明具有调节方便、简单高效,实用性强的特点。
搜索关键词: kdp 晶体 红外光 倍频 最佳 匹配 状态 调节 方法
【主权项】:
一种Ⅱ类KDP晶体对红外光倍频最佳匹配状态的调节方法,其特征在于该方法包括下列步骤:①准备:在设置KDP晶体的近红外基频光光路中,在KDP晶体之前的光路的两个位置分别放置第一小孔光阑(2)和第二小孔光阑(3),利用红外光探测片探测基频光束的同时,调整第一小孔光阑(2)和第二小孔光阑(3),使所述的基频光束的中心穿过所述的第一小孔光阑(2)和第二小孔光阑(3),以确定基频光的方向;②粗调KDP晶体的相位匹配角:在基频光光路中和第一小孔光阑(2)之前放置He‑Ne激光器(1),调节所述的He‑Ne激光器(1)的调整架,使He‑Ne激光器(1)输出的He‑Ne激光光束通过所述的第一小孔光阑(2)和第二小孔光阑(3),此时He‑Ne激光光束与基频光方向重合;将固定在调整架上的KDP晶体(4)放置在第二小孔光阑(3)后光路中,并使得He‑Ne激光光束入射至KDP晶体(4)的中心,通过调节KDP晶体(4)的调整架的俯仰和偏转,使从KDP晶体(4)表面反射的He‑Ne光束与所述的第二小孔光阑(3)的中心重合,然后固定所述的KDP晶体(4)的调整架;③调节KDP晶体的方位角:将所述的He‑Ne激光器(1)、第一小孔光阑(2)和第二小孔光阑(3)移走,开启基频光,所述的基频光在所述的KDP晶体(4)后会有微弱绿光输出;将一个长焦透镜(5)放在所述的KDP晶体(4)后的光路中,在所述的长焦透镜(5)的焦点附近放置洛匈棱镜(6),通过调整架旋转所述的KDP晶体(4),在所述的洛匈棱镜(6)后利用白色观察绿光,当绿光的光点唯一时,锁定KDP晶体(4)的调整架的旋转旋钮;④精调KDP晶体的相位匹配角:在所述的洛匈棱镜(6)后的光路中放置光电探头(7),所述的光电探头(7)的输出端与示波器(8)的输入端相连,将所述的光电探头(7)的输出输入到示波器(8)中,然后微调KDP晶体(4)调整架俯仰和偏转,观察示波器(8)上的波形幅值达到最大时,锁定所述的KDP晶体的调整架,调节完毕,将所述的长焦透镜(5)、洛匈棱镜(6)、光电探头(7)和示波器(8)移走。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210180289.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top