[发明专利]半导体器件及制造方法无效

专利信息
申请号: 201210181674.7 申请日: 2012-06-04
公开(公告)号: CN102810330A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: S·沙曼维德姆;B·保罗;S·克里斯南;S·巴拉萨布拉曼宁 申请(专利权)人: 格罗方德半导体公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 英属开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明涉及一种半导体器件及制造方法,提供一种半导体器件,包括第一对P沟道场效应晶体管和大小小于所述第一对PFET的一对N沟道场效应晶体管,所述第一对P沟道场效应晶体管具有连接到电压接点的共同源极和连接到另一个PFET的漏极的栅极,所述对N沟道场效应晶体管具有连接到所述第一对PFET的个别的PFET的所述漏极的漏极、连接到接地接点的共同源极、和连接到所述第一对PFET的相对的PFET的所述漏极的栅极。。包括互补位线,所述互补位线的各者分别连接到所述第二对PFET的源极。最后,字线连接到所述第二对PFET的各者的栅极。还揭露一种形成所述半导体器件的方法。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
一种方法,包含:形成静态随机存取存储器单元,包含:形成第一对P沟道场效应晶体管,具有连接到电压接点的共同源极和连接到另一个PFET的漏极的栅极;形成大小小于所述第一对PFET的一对N沟道场效应晶体管,具有连接到所述第一对PFET的个别PFET的所述漏极的漏极、连接到Vss接点的共同源极、和连接到所述第一对PFET的相对的PFET的所述漏极的栅极;形成大小大于所述NFET且约为所述第一对PFET的一半的第二对PFET,所述第二对PFET的各者具有分别耦合到链结所述对的NFET的所述NFET的所述个别漏极到所述第一对PFET的所述PFET的所述漏极的连结的漏极;形成互补位线,所述互补位线的各者分别连接到所述第二对PFET的源极;和形成连接到所述第二对PFET的各者的栅极的字线。
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