[发明专利]板料刻痕特征无损高精密测量装置在审
申请号: | 201210183606.4 | 申请日: | 2012-06-05 |
公开(公告)号: | CN103453838A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 陈长江;杨国舜;郭立杰;尤登飞;陆彬;陈军 | 申请(专利权)人: | 上海航天设备制造总厂 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/24;G01B11/22 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置,包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架,第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上;导轨与支架的底面框架连接,单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接,转台组件与单向滑台连接;第二传感器通过托架与支架连接,且设置在单向滑台下方。本发明具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。 | ||
搜索关键词: | 板料 刻痕 特征 无损 精密 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架,所述第一传感器通过所述二维滑台连接至所述支架侧面框架上;所述导轨与所述支架的底面框架连接,所述单向滑台通过所述滑块和锁扣与所述导轨连接,所述转台组件与所述单向滑台连接;所述第二传感器通过所述托架与所述支架连接,且设置在所述单向滑台下方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天设备制造总厂,未经上海航天设备制造总厂许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210183606.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。