[发明专利]超高压锗硅异质结双极晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210187217.9 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN103035690A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 石晶;刘冬华;胡君;钱文生;段文婷;陈帆 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/737 分类号: H01L29/737;H01L29/08;H01L21/331;H01L21/265
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种超高压锗硅异质结双极晶体管,包括:P型衬底,依次位于P型衬底上的N型匹配层、P型匹配层和N-集电区;位于N-集电区中两侧端的场氧区,填入该场氧区中的氧化硅;位于场氧区下端N型匹配层、P型匹配层和N-集电区中的N+赝埋层;位于场氧区之间的N+集电区;位于场氧区和N+集电区上方的氧化硅层、多晶硅层和锗硅基区;位于锗硅基区上方的氧化硅介质层、氮化硅介质层和发射极;位于发射极两侧的发射极侧墙;位于场氧区中的深接触孔,淀积在该深接触孔内的钛/氮化钛过渡金属层及填入的金属钨将N+赝埋层引出,进而实现集电极的引出。本发明公开了一种所述双极晶体管的制备方法。本发明能够提高器件的击穿电压。
搜索关键词: 超高压 锗硅异质结 双极晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种超高压锗硅异质结双极晶体管,其特征在于,包括:低掺杂杂质浓度的P型衬底,依次位于该P型衬底上的N型匹配层、P型匹配层和N‑集电区;位于所述N‑集电区中两侧端的场氧区,填入该场氧区中的氧化硅;位于所述场氧区下端N型匹配层、P型匹配层和N‑集电区中的N+赝埋层;位于所述场氧区之间的N+集电区;位于所述场氧区和N+集电区上方的氧化硅层、多晶硅层和锗硅基区;位于所述锗硅基区上方的氧化硅介质层、氮化硅介质层和发射极;位于所述发射极两侧的发射极侧墙;位于所述场氧区中的深接触孔,淀积在该深接触孔内的钛/氮化钛过渡金属层及填入的金属钨将N+赝埋层引出,进而实现集电极的引出。
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