[发明专利]一种适合于低能X射线测量的透射型监测电离室有效
| 申请号： | 201210187708.3 | 申请日： | 2012-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN103472475A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 魏可新;王红玉;宋明哲;侯金兵;高飞 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于剂量测量技术领域，公开了一种适合于低能X射线测量的透射型监测电离室。该电离室包括支撑结构、绝缘套、支撑环、绝缘柱、收集极、高压极，关键在于，该电离室为三层电极结构，即两个高压极和一个收集极；电离室的中心置有固化灵敏体积的支撑环。该电离室可用于低能X射线测量且灵敏体积稳定、漏电小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适合于 低能 射线 测量 透射 监测 电离室 | ||
【主权项】：
一种适合于低能X射线测量的透射型监测电离室，该电离室包括支撑结构（1）、绝缘套（2）、支撑环（3）、绝缘柱（4）、收集极（5）、高压极（6），其特征在于，该电离室为三层电极结构，即两个高压极和一个收集极；电离室的中心置有固化灵敏体积的支撑环；支撑环（3）的材料为铜；收集极（5）和高压极（6）的材质均为铝化聚酯膜，其厚度为1~10μm。
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