[发明专利]一种物理气相沉积设备在审
申请号: | 201210191253.2 | 申请日: | 2012-06-11 |
公开(公告)号: | CN102676997A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 赵波;刘玮荪 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | C23C14/22 | 分类号: | C23C14/22 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出一种物理气相沉积设备,包括工艺腔体;晶圆承载基座,设置于工艺腔体的底部;工艺腔体罩,设置于工艺腔体的四周;晶圆固定环,其设置于晶圆承载基座的上方,且其外周固定于工艺腔体罩侧壁,使待作业晶圆固定于晶圆承载基座上,并通过内周暴露出待作业晶圆的沉积区域;沉积环,设置于晶圆固定环的上方,且其外周固定于工艺腔体罩侧壁。 | ||
搜索关键词: | 一种 物理 沉积 设备 | ||
【主权项】:
一种物理气相沉积设备,包括:工艺腔体;晶圆承载基座,其设置于所述工艺腔体内部的底部;工艺腔体罩,其设置于所述工艺腔体内部的四周;晶圆固定环,其设置于所述晶圆承载基座的上方,且其外周固定于所述工艺腔体罩侧壁,所述晶圆固定环使待作业晶圆固定于所述晶圆承载基座上,并通过内周暴露出待作业晶圆的沉积区域;其特征在于,还包括:沉积环,其设置于所述晶圆固定环的上方,且其外周固定于所述工艺腔体罩侧壁。
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