[发明专利]光强分布的测量方法有效
| 申请号： | 201210192082.5 | 申请日： | 2012-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN103487140A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 姜开利;朱钧;冯辰;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/38 | 分类号： | G01J1/38 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底上的碳纳米管阵列；将所述碳纳米管阵列的表面修整成一平整表面；用待测光源照射所述碳纳米管阵列的表面，获得一不同表面形态的碳纳米管阵列；以及通过所述碳纳米管阵列的不同表面形态读出待测光源的强度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底上的碳纳米管阵列；将所述碳纳米管阵列的表面修整成一平整表面；用光源照射所述碳纳米管阵列的表面，获得一不同表面形态的碳纳米管阵列；以及通过所述碳纳米管阵列的不同表面形态读出光源的强度分布。
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