[发明专利]光学测量系统及光学测量方法无效
| 申请号： | 201210194274.X | 申请日： | 2012-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN103364078A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 蔡泰成;吴岱纬;廖冠咏;许国君;许寿文;李允立 | 申请（专利权）人： | 新世纪光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量系统及光学测量方法，用以测量至少一个发光元件。光学测量系统包括承载模块、第一光检测单元及至少一个第二光检测单元。承载模块承载并点亮发光元件。第一光检测单元配置在发光元件的正上方，以检测发光元件所发出的正向光。第二光检测单元配置在发光元件的斜上方及侧方至少其中之一，以检测发光元件所发出的斜向光及侧向光至少其中之一。一种光学测量方法亦被提出。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光学测量系统，其特征在于，用以测量至少一发光元件，该光学测量系统包括：承载模块，承载并点亮该发光元件；第一光检测单元，配置在该发光元件的正上方，以检测该发光元件所发出的正向光；以及至少一第二光检测单元，配置在该发光元件的斜上方及侧方至少其中之一，以检测该发光元件所发出的斜向光及侧向光至少其中之一。
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