[发明专利]基于特征指标的矿物成分遥感信息提取方法及装置

摘要

本发明提供了一种基于特征指标的矿物成分遥感信息提取方法和装置，其中所述方法包括如下步骤：A、对遥感图像进行预处理；B、对经过预处理的遥感图像的像元的特征指标进行计算；C、建立归方程；D、根据实际样品反推出所述回归方程中a、b、c、d和e的值；E、根据步骤C得到的回归方程计算像元处的矿物成分含量。本发明可以应用于矿产勘查，对矿产勘查工作起到节省时间、节约人力物力的作用。

主权项

基于特征指标的矿物成分遥感信息提取方法，其特征在于包括如下步骤：A、对遥感图像进行预处理；B、对经过步骤A处理的遥感图像的像元的特征指标进行计算，所述特征指标包括：波段相关斜率SL：SL=（Bi‑Bj）/（Bj‑Bm）；波段斜率指数SI：SI=e((Bi‑Bm)/Bi)；波段相关吸收深度指数SD：SD=e((Bi‑Bk)/(Bi‑Bm))；波段相关多项式指数SP：SP=e((Bi‑Bm)/Bi+(Bj‑Bk)/Bm)；其中，Bi为所述像元的反射率或DN值，对应的波段为样本波段光谱图中反射率或DN值的最大值对应的波段；Bj为所述像元的反射率或DN值，对应的波段为样本波段光谱图中反射率或DN值的第二大值对应的波段；Bk为所述像元的反射率或DN值，对应的波段为样本波段光谱图中反射率或DN值的第三大值对应的波段；Bm为所述像元的反射率或DN值，对应的波段为样本波段光谱图中反射率或DN值的最小值对应的波段；C、建立回归方程：Conij=a×SLij+b×SIij+c×SDij+d×SPij+e其中，Conij为像元处的矿物成分含量，SLij为所述像元的波段相关斜率，SIij为所述像元的波段斜率指数，SDij为所述像元的波段相关吸收深度指数，SPij为所述像元的波段相关多项式指数，a、b、c、d为系数，e为回归分析截距；D、根据实际样品反推出所述回归方程中a、b、c、d和e的值；E、根据步骤C得到的回归方程计算像元处的矿物成分含量。