[发明专利]DC去耦电流测量

摘要

本发明涉及DC去耦电流测量。公开了一种用于测量经由负载晶体管的第一负载端子被提供至负载的负载电流的电路装置。根据本发明的一个示例，电路装置包括耦合至负载晶体管的感测晶体管，以提供表示感测晶体管的第一负载端子处的负载电流的感测电流。负载和感测晶体管的第一负载端子处于相应浮动电位。浮动感测电路耦合在感测晶体管和负载晶体管的负载端子之间，至少在一种操作模式中，感测电路接收感测电流并且提供表示该感测电流的浮动信号。非浮动测量电路经由DC去耦电容器被耦合至感测电路，用于将表示感测电流的浮动信号传送至非浮动测量电路。测量电路被配置成提供表示浮动信号以及因此表示感测电流的输出信号。

主权项

一种用于测量经由负载晶体管的第一负载端子被提供至负载的负载电流的电路装置，所述电路装置包括：感测晶体管，其被耦合至所述负载晶体管以提供表示所述感测晶体管的第一负载端子处的负载电流的感测电流，其中所述负载和感测晶体管的第一负载端子处于相应浮动电位；浮动感测电路，其被耦合在感测晶体管和负载晶体管的负载端子之间，至少在一种操作模式中，所述感测电路接收所述感测电流，并且提供表示所述感测电流的浮动信号；DC去耦电容器；以及非浮动测量电路，其经由所述DC去耦电容器耦合至所述感测电路，用于将表示所述感测电流的所述浮动信号传送至所述非浮动测量电路，其中，所述测量电路被配置成提供表示所述浮动信号以及因此表示所述感测电流的输出信号。