[发明专利]气体钻井随钻分析地层岩性的方法有效
申请号: | 201210195873.3 | 申请日: | 2012-06-14 |
公开(公告)号: | CN102720489A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 李皋;孟英峰;刘厚彬;万里平;魏纳;陈一健;李永杰;汪传磊;刘博伟;严俊涛;刘金龙 | 申请(专利权)人: | 西南石油大学 |
主分类号: | E21B49/02 | 分类号: | E21B49/02;E21B49/00;G01N23/20 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所 51124 | 代理人: | 刘世平 |
地址: | 610500 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种气体钻井随钻分析地层岩性的方法,可对气体钻井返出的岩屑进行快速准确分析。该方法主要包括确定岩屑迟到时间,获取岩屑,现场X射线衍射分析并判断岩性。该方法可在钻井现场快速获取岩层中矿物组份的数据。与现有技术相比,不仅显著缩短了岩屑样品分析周期,使岩性判断极为快速,而且提高了岩性判断的准确性。并且,上述方法可实现随钻井进度实时分析,实时得出地层岩性剖面,可将岩性判断马上反馈给钻井现场技术人员,使现场技术人员可根据岩性判断及时采取相应措施避免钻井事故的发生。 | ||
搜索关键词: | 气体 钻井 分析 地层 方法 | ||
【主权项】:
气体钻井随钻分析地层岩性的方法,其特征是:确定岩屑迟到时间;根据岩屑迟到时间获取对应井深的岩屑,其中,岩屑获取是按钻井深度由浅至深每钻1至2米获取一次岩屑;每次岩屑获取后在钻井现场对岩屑进行X射线衍射分析获得岩屑的X射线衍射数据,通过X射线衍射数据在钻井现场判断岩性:先根据X射线衍射数据获得X射线衍射图谱,然后将X射线衍射图谱与矿物组分数据库进行对比获得岩屑的矿物组份,根据获得的矿物组份判断岩性。
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