[发明专利]信息处理设备、三维测量设备和信息处理方法有效
| 申请号： | 201210196001.9 | 申请日： | 2012-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN102829718A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 中里祐介;内山晋二 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24;G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种信息处理设备、三维测量设备和信息处理方法。信息处理设备包括：获取单元，用于使用从被投射了结构光的测量对象物体反射的光的信息、结构光的光源的位置、以及用于接收反射光并且获取反射光的信息的光接收单元的位置，获取测量对象物体表面上的多个位置；计算单元，用于基于多个位置，获取测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及校正单元，用于基于与在获取多个位置时的测量误差有关的信息、以及测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正多个位置中的至少一个。 | ||
| 搜索关键词： | 信息处理 设备 三维 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种信息处理设备，包括：获取单元，用于使用来自被投射了结构光的测量对象物体的反射光的信息、所述结构光的光源的位置、以及用于接收所述反射光并且获取所述反射光的信息的光接收单元的位置，获取所述测量对象物体的表面的多个位置；计算单元，用于基于所述多个位置，获取所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及校正单元，用于基于与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社，未经佳能株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210196001.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：铸造用铝铜合金
- 下一篇：一种用于生产人造板的E1级胶水的制作方法
