[发明专利]基于天空可见光图像的太阳直接辐射强度测量方法和装置有效
申请号: | 201210199066.9 | 申请日: | 2012-06-14 |
公开(公告)号: | CN102692271A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 杨俊;吕伟涛;马颖;姚雯 | 申请(专利权)人: | 中国气象科学研究院 |
主分类号: | G01J1/10 | 分类号: | G01J1/10 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 范晓斌;康正德 |
地址: | 100081 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于天空可见光图像的太阳直接辐射强度测量方法和装置。该方法包括:图像获取步骤:利用图像获取设备获取预定时刻的天空可见光图像;高亮度像素计数步骤:搜索天空可见光图像的预定区域内的高亮度像素,并对高亮度像素的数量进行计数;辐射强度计算步骤:基于预先确定的天空可见光图像中预定区域内的高亮度像素的数量与太阳直接辐射强度之间的拟合关系,根据高亮度像素的数量计算预定时刻的太阳直接辐射强度。本发明通过拟合分析在天空可见光图像与太阳直接辐射强度之间建立起关联,从而提供了一种新颖的通过图像处理和分析的方式来探测或测量太阳直接辐射强度的方法。这为太阳直接辐射强度的测量提供了一种新的可选方案。 | ||
搜索关键词: | 基于 天空 可见光 图像 太阳 直接 辐射强度 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
一种基于天空可见光图像的太阳直接辐射强度测量方法,包括:图像获取步骤:利用图像获取设备获取预定时刻的天空可见光图像;高亮度像素计数步骤:搜索所述天空可见光图像的预定区域内的高亮度像素,并对高亮度像素的数量进行计数;辐射强度计算步骤:基于预先确定的天空可见光图像中所述预定区域内的高亮度像素的数量与太阳直接辐射强度之间的拟合关系,根据所述高亮度像素的数量计算所述预定时刻的太阳直接辐射强度。
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