[发明专利]用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件无效
| 申请号： | 201210202418.1 | 申请日： | 2012-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN102841383A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | B.L.谢克曼;S.A.克拉克;S.L.卢什 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 姜甜;李浩 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件。公开一种用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件。一个示例传感器组装件(100、200)包括配置成产生至少一个微波信号的信号发生器(104、204)、连接到信号发生器的耦合器(106、206)、耦接到耦合器的微波元件(108、208)，以及连接到耦合器的处理模块(112、212)。微波元件配置成作为所述至少一个微波信号的函数来产生电磁场。微波元件结构构造成在材料(102、202)与电磁场相互作用时，将加载信号反映到所述耦合器。处理模块配置成利用参考信号来处理加载信号，以产生表示材料与微波元件的接近度的数据信号。数据信号限定亚微波频率。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 检测 材料 微波 元件 接近 传感器 组装 | ||
【主权项】：
一种传感器组装件(100、200)，包括：配置成产生至少一个微波信号的信号发生器(104、204)；连接到所述信号发生器的耦合器(106、206)；耦接到所述耦合器的微波元件(108、208)，所述微波元件配置成作为所述至少一个微波信号的函数来产生电磁场(110、210)，其中，所述微波元件结构构造成在材料(102、202)与所述电磁场相互作用时，将加载信号反映到所述耦合器；以及连接到所述耦合器的处理模块(112、212)，所述处理模块配置成利用参考信号来处理所述加载信号，以产生表示所述材料与所述微波元件的接近度的数据信号，其中，所述数据信号限定亚微波频率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210202418.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
