[发明专利]用于质谱分析的离子选择优化有效
| 申请号： | 201210203461.X | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN102841124B | 公开（公告）日： | 2016-12-21 |
| 发明（设计）人： | 布鲁斯·D·昆比;迈克尔·J·沙勒夫斯基 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 | 代理人： | 肖善强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了用于质谱分析的系统和方法，具体地涉及用于质谱分析的离子选择优化。在一个实施例中，提出了一种在质谱测试中用于分析物校准的选择靶离子和多个定性特征离子的方法。例如，该方法可以包括(a)获取该分析物的参考质谱；(b)识别该参考质谱的提取时间窗；(c)在该提取时间窗内提取基质质谱；(d)在多个基质离子中测量噪声值；(e)通过将分析物离子的丰度除以在相应基质离子处的噪声值来计算多个分析物离子的信噪比值；(f)将具有最高信噪比值的分析物离子指定为所述靶离子；和(g)将具有下一个最高信噪比值的分析物离子指定为定性特征离子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 谱分析 离子 选择 优化 | ||
【主权项】：
一种在质谱测试中用于分析物校准的选择靶离子和多个定性特征离子的方法，该方法包括：(a)获取该分析物的参考质谱；(b)识别该参考质谱的提取时间窗；(c)在该提取时间窗内提取基质质谱；(d)在多个基质离子中测量噪声值；(e)通过将分析物离子的丰度除以在相应基质离子处的噪声值来计算多个分析物离子的信噪比值；(f)将具有最高信噪比值的分析物离子指定为所述靶离子；和(g)将具有下一个最高信噪比值的分析物离子指定为定性特征离子。
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