[发明专利]一种基于信号差分检测的光学微流控芯片及测试方法有效
| 申请号： | 201210204065.9 | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN103512862B | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 黄辉;渠波;刘蓬勃 | 申请（专利权）人： | 黄辉;渠波;刘蓬勃 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司11137 | 代理人： | 朱黎光 |
| 地址： | 116024 辽宁省大连市高新区*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于信号差分检测的光学微流控芯片及测试方法，其特征在于在微流槽中承载待测样品和标准样品，将待测样品和标准样品的测试信号进行差分运算，从而有效消除光源波长漂移和温度漂移等因素所导致的测试误差，从而提高测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 信号 检测 光学 微流控 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于信号差分检测的测试仪，其特征在于：所述测试仪包括：激光器、分束器、幅度调制器、透镜、微流控芯片以及光电探测器，所述幅度调制器包括光放大器和光衰减器，所述微流控芯片内设有承载标准样品和待测样品的微流槽；所述微流槽的表面或内部镀光学薄膜，调节光束相位，优化光束的干涉效应；所述光学薄膜的光学厚度为半个波长的奇数倍；探测光由单个激光器输出的光经过分光而成；探测光经过幅度调制器和透镜后，分别通过承载着待测样品和标准样品的微流槽；然后经过透镜，两束光分别进入光电探测器转换成电信号，接着进行两个电信号的差分运算。
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