[发明专利]一种测定晶体取向分布的多试样组合法

摘要

本发明提供一种测定晶体取向分布的多试样组合法，它包括以下步骤：1）选取钢板不同部位的多块试样；2）将上述试样加工成相同规格的多块长方形钢片，叠放于极图测量试样架中，并进行紧固、抛光、腐蚀，制成R.D截面试样；3）测定R.D截面试样的{110}、{200}、{211}三张不完整极图；4）利用常规取向分布函数软件计算ODF图，获取针对Bung坐标系的φ、φ1、及φ2值或Roe坐标系的θ、φ、及ψ值；5）利用Bung坐标系的公式（a）、（b）或Roe坐标系的公式（c）、（d）计算织构。该多试样组合法能够反映试样整个厚度的晶体取向情况，代表性强；对于已具备常规ODF分析软件的试验室，无需另外专门编制或购买专门针对计算几十块样品所组成的横断面的ODF软件，使用便捷；对于无ODF分析软件的试验室，仅需编制或购买常规ODF软件，成本较低。

主权项

一种测定晶体取向分布的多试样组合法，其特征在于，它包括以下步骤： 1）选取钢板不同部位的多块试样；2）将上述试样加工成相同规格的多块长方形钢片，叠放于极图测量试样架中，并进行紧固、抛光、腐蚀，制成R.D截面试样；3）测定R.D截面试样的{110}、{200}、{211}三张不完整极图；4）利用常规取向分布函数软件计算ODF图，获取针对Bung坐标系的φ、φ1、及φ2值或Roe坐标系的θ、φ、及ψ值；5）利用Bung坐标系的公式（a）、（b）或Roe坐标系的公式（c）、（d）计算织构：若取Bung坐标系，则：h:k:l=(cosφ1cosφ2‑sinφ1sinφcosφ):(‑cosφ1sinφ2‑sinφ1cosφ2cosφ):sinφ1sinφ； （a）u:v:w=sinφ2sinφ:cosφ2sinφ:cosφ；                                 （b）若取Roe坐标系，则：h:k:l=(cosθcosφcosψ‑sinφsinψ):(‑cosψcosθsinφ‑sinψcosφ):cosψsinθ；      （c）u:v:w=‑sinθcosφ:sinθsinφ:cosθ；                                    （d）其中，φ、φ1、φ2、θ、和ψ均为欧拉角。