[发明专利]正负条形相位光阑及采用该光阑的4f相位相干非线性成像系统及对非线性折射率测量方法无效
申请号: | 201210209583.X | 申请日: | 2012-06-25 |
公开(公告)号: | CN102707365A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 石光;宋瑛林;聂仲泉;李中国;杨昆;王玉晓;张学如 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G02B5/30 | 分类号: | G02B5/30;G02B27/28;G01N21/41 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 牟永林 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 正负条形相位光阑及采用该光阑的4f相位相干非线性成像系统及对非线性折射率测量方法,涉及一种相位光阑的4f相位相干非线性成像系统及对非线性折射率测量方法,属于光学领域。目的是针对传统相位光阑制作工艺的难度大,测量精度低的问题。正负条形相位光阑的正、负条形相位物体的位相延迟分别为2mπ+π/2和2nπ-π/2,其中m、n为整数;正负条形相位光阑的4f相位相干非线性成像系统,它包括测量系统和能量参考系统;用于实现对非线性折射率测量。 | ||
搜索关键词: | 正负 条形 相位 光阑 采用 相干 非线性 成像 系统 折射率 测量方法 | ||
【主权项】:
正负条形相位光阑,其特征在于,相位光阑中心的正、负条形相位物体的位相延迟分别为2mπ+π/2和2nπ‑π/2,其中m、n为整数。
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