[发明专利]获得地震动样本的方法和装置有效
申请号: | 201210210292.2 | 申请日: | 2012-06-19 |
公开(公告)号: | CN102721978A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 张郁山 | 申请(专利权)人: | 中国地震灾害防御中心 |
主分类号: | G01V1/28 | 分类号: | G01V1/28 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例提供了一种获得地震动样本的方法和装置,涉及地震工程领域,能够获得与天然地震动具有相同非平稳特性的地震动样本,所述方法包括:获取预先存储的天然地震动记录的瞬时幅值和瞬时相位;对所述瞬时相位进行解卷;采用傅立叶(Fourier)变换获取所述解卷后的瞬时相位的幅值谱和相位谱;采用所述相位谱的高频分量构造随机频率过程;采用所述随机频率过程、所述幅值谱及所述相位谱的低频分量构造随机相位过程;根据所述瞬时幅值与所述随机相位过程获得地震动随机过程;根据所述地震动随机过程获得地震动样本。本发明可用于抗震设计领域。 | ||
搜索关键词: | 获得 震动 样本 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种获得地震动样本的方法,其特征在于,包括:获取预先存储的天然地震动记录的瞬时幅值和瞬时相位;对所述瞬时相位进行解卷;采用傅立叶变换获取所述解卷后的瞬时相位的幅值谱和相位谱;采用所述相位谱的高频分量构造随机频率过程;采用所述随机频率过程、所述幅值谱及所述相位谱的低频分量构造随机相位过程;根据所述瞬时幅值与所述随机相位过程获得地震动随机过程;根据所述地震动随机过程获得地震动样本。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地震灾害防御中心,未经中国地震灾害防御中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210210292.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:数字图像局部高光溢出消除方法
- 下一篇:高精度光学元件面形检测工装夹具