[发明专利]半导体器件的清洁方法有效
申请号: | 201210210775.2 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102989722A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 叶明熙;庄国胜;张简瑛雪;杨棋铭;林进祥 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | B08B7/04 | 分类号: | B08B7/04;H01L21/02 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种方法,包括提供室,室具有第一入口和第二入口。将去离子(DI)水和酸(如,稀酸)的溶液通过第一入口提供到室。将载气(如,N2)通过第二入口提供到室。溶液和载气在室中,然后从室到达单个半导体晶圆上。在实施例中,溶液包括稀HCl和DI水。本发明还提供了一种半导体器件的清洁方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 清洁 方法 | ||
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,包括:提供半导体晶圆;将混合有载气的清洁溶液分配到所述半导体晶圆上,其中,所述清洁溶液是去离子水和酸。
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