[发明专利]倒置生长宽谱吸收III-V多结电池的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210213314.0 申请日: 2012-06-26
公开(公告)号: CN102723404A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 张瑞英;董建荣;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种倒置生长宽谱吸收III-V多结电池的制备方法,其利用高深宽比位错捕获技术实现GaAs材料上InP外延以及GaAs系和InP系电池的单片集成,并通过倒置生长在GaAs衬底上实现GaInP/GaAs/InGaAsP/InGaAs多结电池,其后通过层转移技术和衬底剥离技术将其转移到更加廉价衬底,获得了具有较高光电转换效率的高性价比太阳能电池。本发明方法易于实施,成本低廉,能实现III-V多结太阳能电池的规模化生产。
搜索关键词: 倒置 生长 吸收 iii 电池 制备 方法
【主权项】:
一种倒置生长宽谱吸收III‑V多结电池的制备方法,其特征在于,它包括如下步骤:(1)在抛光GaAs衬底表面上依次生长Al(Ga)As衬底剥离层、GaAs电极接触层、倒置GaInP/GaAs串接电池和GaAs保护层;(2)在所述GaAs保护层上沉积形成介质膜,并对所述介质膜进行图案化处理,获得纳米级图案化介质掩膜结构,并将与非掩膜区对应的GaAs保护层表面暴露出来;(3)在所述纳米级图案化介质掩膜结构内生长形成InP薄膜,随后对所述InP薄膜进行抛光,直至获得器件级平整的InP薄膜;(4)在所述InP薄膜上倒置生长形成InGaAsP/InGaAs串结电池结构,而后在所述InGaAsP/InGaAs串结电池结构表面形成欧姆接触金属层,并将所述欧姆接触金属层与转移衬底键合,获得完整的倒置生长InGaP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四结电池结构;(5)将所述GaAs衬底从前述InGaP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四结电池结构中无损伤剥离,并在剥离GaAs衬底后形成的器件表面上形成欧姆接触金属层,进而采用传统III‑V族电池工艺获得目标产物。
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