[发明专利]针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210216938.8 申请日: 2012-06-27
公开(公告)号: CN102721824A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 宋宏伟;黄晨光;王健;魏延鹏;吴先前 申请(专利权)人: 中国科学院力学研究所
主分类号: G01P3/36 分类号: G01P3/36
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 王艺
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置,对于速度为100~101m/s量级,并且加速度在109m/s2以上量级的质点表速度,本发明采用光纤激光多普勒干涉测速硬件系统与采用特定流程的短时傅里叶变换或连续小波变换时频变换数据处理相结合的方法,实现具有上述特征运动靶面质点速度的高时间分辨率和速度分辨率测试,其中时间分辨率为0.2ns,速度精度为误差不超过0.1%。而且,本发明可以同时测试多路质点速度,测试效率高,成本较低,易于实现。
搜索关键词: 针对 具有 低速 加速度 特征 质点 速度 测量方法 装置
【主权项】:
一种针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法,包括:步骤1,光纤激光多普勒干涉测速系统对速度为100~101m/s量级,并且加速度在109m/s2以上量级的运动靶面质点速度进行测量,输出差拍干涉信号至速度计算系统;步骤2,所述速度计算系统采用短时傅里叶变换或连续小波变换对所述差拍干涉信号进行时频变换数据处理,以实现具有上述特征的运动靶面质点速度的高时间分辨率和速度分辨率测试。
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