[发明专利]一种发光二极管的制造方法无效

专利信息
申请号: 201210219226.1 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN103515491A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 杨杰 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;B28D5/00;H01L21/78;H01L33/20
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种发光二极管的制造方法,于蓝宝石衬底上形成包括N-GaN层、量子阱层、P-GaN层及透明导电层的发光外延层,然后定义发光外延阵列并依据阵列刻蚀及划片,形成多个直至N-GaN层的划道及从各该划道延伸至所述半导体衬底一预设深度的V型划片槽,接着制备电极并减薄蓝宝石衬底,最后采用裂片刀并使裂片刀的压迫位置与所述V型划片槽底部之间具有1~150um的横向偏移对各该发光外延阵列进行裂片,获得出光斜面。本发明通过使裂片刀压迫位置与划片槽之间具有一定的横向偏移进行裂片,在蓝宝石衬底中获得一出光斜面,有效的增加了出光面积,提高发光二极管的出光效率。本发明只需花费较低的成本便可提高发光二极管的出光效率,且工艺简单,适用于工业生产。
搜索关键词: 一种 发光二极管 制造 方法
【主权项】:
一种发光二极管的制造方法,其特征在于,所述制造方法至少包括步骤:1)提供一半导体衬底,于所述半导体衬底上表面形成至少包括N‑GaN层、量子阱层、P‑GaN层及透明导电层的发光外延层;2)于所述发光外延层定义出多个发光外延阵列,并根据各该发光外延阵列刻蚀所述P‑GaN层及量子阱层,形成多个直至所述N‑GaN层的划道,然后依据各该划道的位置进行划片,形成多个从各该划道延伸至所述半导体衬底一预设深度的V型划片槽;3)于各该划道中裸露的N‑GaN层表面制备N电极,并于各该发光外延阵列的透明导电层上制备P电极;4)减薄所述半导体衬底;5)采用裂片刀对上述所得结构进行裂片,其中,裂片刀的压迫位置与所述V型划片槽底部之间具有1~150um的横向偏移,以获得连接所述压迫位置与所述V型划片槽底部的出光斜面,以完成所述发光二极管的制造。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海蓝光科技有限公司,未经上海蓝光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210219226.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top