[发明专利]一种SRAM单元无效

专利信息
申请号: 201210219665.2 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN102750978A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 张震 申请(专利权)人: 南京理工大学常熟研究院有限公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215513 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出一种全新的6管SRAM单元结构,此结构采用读写分开技术,从而很大程度上解决了噪声容限的问题,并且此结构在数据保持状态下,采用漏电流以及正反馈保持数据,从而不需要数据的刷新来维持数据。仿真显示了正确的读写功能,并且读写速度和6管基本相同,但是比普通6管SRAM单元读写功耗显著降低。本发明能够有效的提高静态噪声容限从而增强了存储单元的稳定性,并且极大的降低整体的功耗。
搜索关键词: 一种 sram 单元
【主权项】:
一种SRAM单元,其特征在于主要包括如下部分:由M2和M4的P型MOS管,以及M1,M3,M5,M6的N型MOS管构成的存储单元;第一N型MOS管的漏极与第二P型MOS管的漏极连接于存储节点Q,所述第二P型MOS管的源极与所述第三P型MOS管的源极均连接于高电源电平,所述第三P型MOS管漏极与第四型N型MOS管漏极连接于存储节点Qbar,所述第三P型MOS管栅极与第四型N型MOS管栅极连接于存储节点Q,所述第一N型MOS管的栅极连接于字线信号,而源极连接于位线非信号线;所述第二P型MOS管的栅极与第五N型MOS栅极连接于存储节点Qbar,所述第五N型MOS管的源极连接于位线信号,所述第五N型MOS管的栅极连接于读控制信号线,所述第四N型MOS管的漏极和第六N型MOS管的漏极连接于低电源电平;N型MOS管M5和M6负责读操作,N型MOS管M1,M4,P型MOS管M2,M3完成写操作。
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