[发明专利]光学式测距装置及电子设备有效
| 申请号： | 201210222556.6 | 申请日： | 2012-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN102853809A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 和田秀夫;山口阳史;久保胜 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 岳雪兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中，在由遮光性树脂形成的二次模制件（9）及三次模制件（10）之间保持透镜架（11），该透镜架（11）由金属形成，保持发光透镜（5）及受光透镜（6）。透镜架（11）在表面及背面具有凹凸结构（11b）。因为大幅提高发光透镜（5）及受光透镜（6）与透镜架（11）的紧密结合力，所以能够防止发光透镜（5）、受光透镜（6）与透镜架（11）之间发生滑动。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测距 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
一种光学式测距装置，是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置；该光学式测距装置的特征在于，具有：发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物；受光元件，安装在所述安装部件上，用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使所述反射光会聚于所述受光元件；透光性树脂体，密封所述发光元件及所述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖所述透光性树脂体，以形成使所述射出光从所述发光元件照射至所述发光透镜的空间，以及使所述反射光从所述受光透镜照射至所述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，保持所述发光透镜及所述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封所述透镜架及所述第一遮光性树脂体；所述透镜架在表面及背面的、至少形成所述发光透镜及受光透镜的区域形成凹凸结构。
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