[发明专利]运算器测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 201210224191.0 | 申请日： | 2012-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN103513177A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 林正浩 | 申请（专利权）人： | 上海芯豪微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 200092 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种运算器测试系统及测试方法，通过预期结果单元生成预期结果并将这一轮测试的预期结果提供给比较器，由此，所述预期结果单元至少仅需存储一轮测试的预期结果即可，从而减少了所述预期结果单元对预期结果的存储量。 | ||
| 搜索关键词： | 运算器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种运算器测试系统，其特征在于，包括：控制单元、数据提供单元、第一输入单元、第二输入单元、待测运算器、预期结果单元、比较器及测试结果存储单元，其中，所述控制单元控制测试过程的进行；当进行测试时：所述数据提供单元向所述第一输入单元、第二输入单元及预期结果单元提供数据；所述第一输入单元及第二输入单元向所述待测运算器提供测试数据；所述待测运算器进行运算并将运算结果提供给比较器，所述预期结果单元生成预期结果并将这一轮测试的预期结果提供给比较器；所述比较器比较运算结果及预期结果，并将比较结果提供给测试结果存储单元。
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