[发明专利]一种原子冷却囚禁光源装置有效

专利信息
申请号: 201210224721.1 申请日: 2012-07-02
公开(公告)号: CN102769250A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 涂娟;王谨;詹明生 申请(专利权)人: 中国科学院武汉物理与数学研究所
主分类号: H01S5/0687 分类号: H01S5/0687
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430071 湖北省武汉市武昌区小*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种冷却囚禁光源装置,属于激光器技术领域。所述装置包括:光源主体,所述光源主体包括半导体激光管、准直透镜、衍射光栅和反射镜,所述装置还包括:用于调整所述光源主体的输出信号频率的压电晶体驱动器、用于供光源主体输出的激光通过的无源腔、用于检测透过无源腔的激光的强度并产生第一光检信号的第一光电检测单元、用于检测所述光源主体输出的激光的强度并产生第二光检信号的第二光电检测单元、用于根据所述第一光电检测单元输出的第一光检信号和所述第二光电检测单元输出的第二光检信号输出第一压控信号到所述压电晶体驱动器的伺服单元。本发明的冷却囚禁光源装置的输出信号频率稳定度高,可以满足高精度设备的要求。
搜索关键词: 一种 原子 冷却 囚禁 光源 装置
【主权项】:
一种原子冷却囚禁光源装置,所述装置包括光源主体,所述光源主体包括半导体激光管、准直透镜、衍射光栅和反射镜,其特征在于,所述装置还包括:用于调整所述光源主体的输出信号频率的压电晶体驱动器、用于供所述光源主体输出的激光通过的无源腔、用于检测透过所述无源腔的激光的强度并产生第一光检信号的第一光电检测单元、用于检测所述光源主体输出的激光的强度并产生第二光检信号的第二光电检测单元、用于根据所述第一光电检测单元输出的第一光检信号和所述第二光电检测单元输出的第二光检信号输出第一压控信号到所述压电晶体驱动器的伺服单元。
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