[发明专利]一种增加单位测试模块的可测器件Kelvin测试回路有效
| 申请号： | 201210228675.2 | 申请日： | 2012-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN102769008A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 周羽宇 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;G01R27/08 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 王敏杰 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种增加单位测试模块的可测器件Kelvin测试回路，包括若干个单位测试模块、若干个压力单元、若干个栅极控制单元、高感单元、低感单元和接地单元，其特征在于，在每一个所述单位测试模块的四个端分别通过串联一CMOS器件连通至压力单元、高感单元、低感单元和接地单元；所述若干个单位测试模块共用同一个高感单元、低感单元和接地单元，所述CMOS器件的漏极端和栅极控制单元连通。本发明提供的可测器件Kelvin测试回路的结构简单，方便layout的布线，便于实现。提高测试面积的使用率，无论对量产产品的WAT测试，还是对研发的试作芯片的开发设计，都具有相当实用的价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 增加 单位 测试 模块 器件 kelvin 回路 | ||
【主权项】：
一种增加单位测试模块的可测器件Kelvin测试回路，包括若干个单位测试模块、若干个压力单元、若干个栅极控制单元、高感单元、低感单元和接地单元，其特征在于，在每一个所述单位测试模块的四个端分别通过串联一CMOS器件连通至压力单元、高感单元、低感单元和接地单元；所述若干个单位测试模块共用同一个高感单元、低感单元和接地单元，所述CMOS器件的漏极端和栅极控制单元连通。
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