[发明专利]双极高电子迁移率晶体管及其形成方法无效
申请号: | 201210230125.4 | 申请日: | 2012-06-21 |
公开(公告)号: | CN102842578A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | K·斯蒂文斯;C·路茨 | 申请(专利权)人: | 寇平公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L29/737;H01L29/08;H01L21/8248 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;黄耀钧 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种外延层结构,包括场效应晶体管结构和异质结双极晶体管结构。异质结双极晶体管结构包含与场效应晶体管结构组合形成的n掺杂次集电极和集电极,其中次集电极或集电极中至少一部分包含Sn、Te或Se。在一个实施方式中,基极形成在集电极上方;以及发射极形成在基极上方。双极晶体管和场效应晶体管每个独立地包含III-V半导体材料。 | ||
搜索关键词: | 极高 电子 迁移率 晶体管 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种外延层结构,包括:(a)场效应晶体管结构,其包括接触层;以及(b)形成在所述场效应晶体管结构上方的异质结双极晶体管结构,其中所述异质结双极晶体管结构包含i)形成在所述场效应晶体管结构的接触层上方的n掺杂次集电极ii)所述次集电极上方的集电极,其中次集电极和集电极中的至少一个每个独立地包括由锡Sn、碲Te和硒Se组成的组中的至少一个成员;iii)在所述集电极上方的基极,以及iv)在所述基极上方的发射极;其中所述异质结双极晶体管结构的集电极和次集电极中至少一个,以及所述场效应晶体管结构的接触层,每个独立地包含III‑V半导体材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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