[发明专利]凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法无效
申请号: | 201210230841.2 | 申请日: | 2011-04-17 |
公开(公告)号: | CN102722139A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 丁仕燕;汪蓉 | 申请(专利权)人: | 丁仕燕 |
主分类号: | G05B19/406 | 分类号: | G05B19/406 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213000 江苏省常州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种结构简单、检测精度和效率较高的凸轮轮廓检测用数控系统,其包括:用于带动凸轮绕垂向的心轴水平同轴旋转的数控转台、水平设于数控转台一侧的导轨同步带组件、设于该导轨同步带组件中的同步带上且于凸轮一侧的激光测距头、用于测量所述激光测距头的水平位移量的光栅尺位移传感器、用于检测凸轮的旋转角度的编码器、以及工控机;所述工控机控制所述数控转台和导轨同步带组件动作,并根据所述激光测距头、光栅尺位移传感器和编码器测得的数据计算出凸轮的外轮廓数据。 | ||
搜索关键词: | 凸轮 轮廓 检测 数控系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法,其特征在于所述凸轮轮廓检测用数控系统包括:用于带动凸轮(10)绕垂向的心轴(1-1)水平同轴旋转的数控转台(1)、水平设于数控转台(1)一侧的导轨同步带组件(3)、设于该导轨同步带组件(3)中的同步带(3-1)上且于凸轮(10)一侧的激光测距头(2)、用于测量所述激光测距头(2)的水平位移量的光栅尺位移传感器(4)、用于检测凸轮(10)的旋转角度的编码器(5)、以及工控机;所述工控机控制所述数控转台(1)和导轨同步带组件(3)动作,并根据所述激光测距头(2)、光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)测得的数据计算出凸轮(10)的外轮廓数据;所述激光测距头(2)通过一滑块(8)设于导轨同步带组件(3)中的导轨(3-2)上,滑块(8)与所述同步带(3-1)固定相连;所述导轨(3-2)两端设有带轮(3-3),所述同步带(3-1)设于该对带轮(3-3)上,且其中的一个带轮(3-3)与一步进电机(7)传动相连,所述数控转台(1)与一转台电机(6)传动相连;所述工控机包括:用于实时控制所述数控转台(1)和步进电机(7)动作的运动控制卡,与所述激光测距头(2)相连的用于实时检测激光测距头(2)与凸轮(10)的外轮廓的间距的激光位移传感器采集卡,与所述光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)相连的编码器计数卡,以及通过系统总线与所述运动控制卡、激光位移传感器采集卡和编码器计数卡相连的CPU单元;所述运动控制卡通过一转台电机驱动器控制转台电机(6)的动作,进而控制所述数控转台(1)动作;运动控制卡同时通过一步进电机驱动器控制步进电机(7)动作;在所述凸轮(10)的旋转角度为θi时,测得的凸轮(10)的外轮廓与激光测距头(2)的间距即第一间距测量值为lTi;同时,光栅尺位移传感器(4)测量得的所述滑块(8)在水平方向与光栅尺位移传感器(4)的硬零位(l0)的间距即第二间距测量值为lMi,i=1,2,3…n;i为凸轮(10)旋转一周的过程中同时检测所述第一第二间距测量值lTi、lMi的次数,0°≤θi<360°;所述凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法包括:a)、将激光测距头(2)与心轴(1-1)的外圆的间距即第一间距lT0控制在激光测距头(2)的量程内,然后检测并记录所述第一间距lT0,同时检测并记录所述滑块(8)在水平方向与所述硬零位(l0)的间距即第二间距lM0;b)、将凸轮(10)无间隙配合于所述心轴(1-1)上,若未知凸轮(10)的外轮廓数据,则在开始控制凸轮(10)旋转一周的同时,控制所述滑块(8)根据激光测距头(2)测得的所述第一间距测量值为lTi的大小做靠近或远离凸轮(10)的直线位移,以控制所述第一间距测量值lTi始终处于激光测距头(2)的量程内,并获取与凸轮(10)的旋转角度θi相对应的所述第一、第二间距测量值lTi、lMi;c)、由心轴直径和所述lT0、lM0、lTi、lMi,计算出凸轮(10)的极径测量值ρi(θi):ρ i ( θ i ) = 1 2 φd + ( l T 0 - l Ti ) + ( l M 0 - l Mi ) . ]]>
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