[发明专利]用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法

摘要

用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法。本发明属于图像采集技术领域，涉及一种基于上光源斜照式的瓷砖边角图像采集新方法。本方法利用瓷砖面与传输皮带间的高度差，光源从瓷砖面到皮带面进行斜照时，会在皮带面上形成阴影暗区，利用这一阴影暗区将瓷砖边角突出出来，形成清晰的轮廓。由于暗区是瓷砖阴影形成，即使皮带上有水、皮带磨损等情况发生，暗区依然存在。另外，瓷砖倒边角与否也不影响瓷砖边角成像质量。该方法应用于瓷砖尺寸检测系统中可以提高参数检测的准确性和稳定性，而且特别适用于不能采用下光源方法进行图像采集或者采用传统上光源进行图像采集时难以克服的水干扰和倒边角干扰问题的瓷砖尺寸检测场合。

主权项

用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法，其特征在于利用上光源进行图像采集、分割，包括下列步骤：(1)将四个摄像机安装在瓷砖四个边角的正上方，使瓷砖边角点与对应摄像机视野中心重合；(2)将平行光源安装在瓷砖边角的斜上方，使光线沿竖直一定角度方向倾斜照射瓷砖边角；(3)倾斜平行光束从瓷砖表面照射到皮带表面，由于瓷砖与传输皮带间存在一定的高度差，因此瓷砖边缘会在传输皮带上形成一定宽度的阴影暗区；(4)由位置传感器触发摄像机拍摄瓷砖边角及暗区图像；(5)采用图像分割算法对拍摄到的瓷砖图像进行分割，精确分割出瓷砖边角。