[发明专利]一种瑞雷面波深度-频率分析方法无效

专利信息
申请号: 201210231893.1 申请日: 2012-07-06
公开(公告)号: CN102749646A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 沈鸿雁;赵晓奇;胡桢干;李朋波;刘建杰 申请(专利权)人: 西安石油大学
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 西安西达专利代理有限责任公司 61202 代理人: 第五思军
地址: 710065 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种瑞雷面波深度-频率分析方法,步骤为:一,将含有m道,每道有n个采样点,时间采样率为的单炮瑞雷面波地震记录读取到二维数组g中;二,对g进行二维傅里叶变换,得到f-k谱;三,建立穿透深度(h)与速度(v)、频率(f)、波数(k)、波长(λ)、泊松比(σ)之间的关系;第四步,依据瑞雷面波穿透深度(h)与速度(v)、频率(f)、波数(k)、波长(λ)、泊松比(σ)之间的关系,将f-k谱中对应(kf)坐标的能量映射到h-f谱中对应(fh)坐标的位置,选定h-f谱输出的坐标范围并成图;第五步,基于h-f谱,从浅至深依次拾取h-f谱中的强能量团,提取对应的(fh)坐标值,形成深度-频率(h-f)曲线,信息提取简单、方便。
搜索关键词: 一种 瑞雷面波 深度 频率 分析 方法
【主权项】:
1.一种瑞雷面波深度-频率分析方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,将含有m道,每道有n个采样点,时间采样率为的单炮瑞雷面波地震记录读取到二维数组g中;第二步,对g进行二维傅里叶变换,得到f-k谱,二维离散傅里叶正变换为:其中,k为波数,为波数采样率,j0=1,2,…,m,为波数采样序号;f为频率,为频率采样率,l0=1,2,…,n,为频率采样序号;j=1,2,…,m,为道序号;l=1,2,…,n,为采样点序号;为道间距,为最小偏移距,x为偏移距;为时间采样率,t为采样时间;为虚数单位;第三步,建立穿透深度(h)与速度(v)、频率(f)、波数(k)、波长(λ)、泊松比(σ)之间的关系,具体如下:瑞雷面波的穿透深度(h)与波长(λ)和泊松比(σ)有关,其关系式为:则穿透深度(h)与频率(f)的关系为:其中,C为与泊松比有关的深度校正因子,通常,近地表地层的泊松比范围在0.20~0.35之间,因此,深度校正因子取值范围一般为0.625~0.75;第四步,依据瑞雷面波穿透深度(h)与速度(v)、频率(f)、波数(k)、波长(λ)、泊松比(σ)之间的关系,将f-k谱中对应(kf)坐标的能量映射到h-f谱中对应(fh)坐标的位置,同时选定h-f谱输出的坐标范围并成图;第五步,基于h-f谱,从浅至深依次拾取h-f谱中的强能量团,并提取对应的(fh)坐标值,形成深度-频率(h-f)曲线,便实现了瑞雷面波的深度-频率(h-f)分析。
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