[发明专利]基于数学形态学的量子点检测方法无效

专利信息
申请号: 201210232222.7 申请日: 2012-07-05
公开(公告)号: CN102831596A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 徐露露;鲁华祥;边昳;陈旭;龚国良;刘文鹏;张放;金敏;陈刚 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G01B11/00;G01B11/24;G01N9/24
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于数学形态学的量子点检测方法,包括如下步骤:步骤1:对原始量子点图像做预处理,增强图像对比度;步骤2:利用带标记的分水岭分割方法对量子点图像进行初步分割,使每个量子点划分到不同的区域;步骤3:将量子点从各自区域中提取出来;步骤4:对提取出来的每个量子点去除衬底;步骤5:得到去除衬底后的量子点,对每个量子点进行标记,提取量子点的各几何形貌特征参数,完成量子点检测。该方法能有效分割出量子点边界,准确提取量子点,快速统计量子点的各几何形貌参数;具有对背景噪声不敏感的优点。
搜索关键词: 基于 数学 形态学 量子 检测 方法
【主权项】:
一种基于数学形态学的量子点检测方法,包括如下步骤:步骤1:对原始量子点图像做预处理,增强图像对比度;步骤2:利用带标记的分水岭分割方法对量子点图像进行初步分割,使每个量子点划分到不同的区域;步骤3:将量子点从各自区域中提取出来;步骤4:对提取出来的每个量子点去除衬底;步骤5:得到去除衬底后的量子点,对每个量子点进行标记,提取量子点的各几何形貌特征参数,完成量子点检测。
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