[发明专利]大视场杂散光PST测试方法及装置有效
申请号: | 201210232916.0 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN102749184A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 徐亮;赵建科;周艳;刘峰;张周峰;胡丹丹;张洁 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 姚敏杰 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种大视场杂散光PST测试方法及装置,包括大动态范围光源、平行光管、洁净室、高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统;平行光管设置在大动态范围光源的出射光路上;EMCCD设置在高负载转台上并与数据采集及处理系统电性相连;大动态范围光源与数据采集及处理系统电性相连;高负载转台设置在经平行光管后的出射光路上;大动态范围光源、平行光管、高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统设置在洁净室内部。本发明提供了一种能够有效的在地面对航天相机遮光罩的杂散光抑制能力进行考核、对相机的整机信噪比进行估算、可保证航天相机发射上天后能够清晰成像以及具有超大视场和高精度的大视场杂散光PST测试方法及装置。 | ||
搜索关键词: | 视场 散光 pst 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种大视场杂散光PST测试方法,其特征在于:所述大视场杂散光PST测试方法包括以下步骤:1)采集点目标未经待测光学系统时在入瞳处照度的响应度Eo;2)安装并调整待测光学系统的位置,采集点目标经过待测光学系统在不同视场位置由杂散光辐照时在待测光学系统的像面处产生的响应度Ed(θ);3)根据公式计算待测光学系统在视场外视场角为θ的PST(θ)值。
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