[发明专利]一种测量过程优化的方法、终端和基站在审
| 申请号： | 201210235700.X | 申请日： | 2012-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN103546905A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 赵美;李博 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李健;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量过程优化方法，包括：基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。本发明实施例还提供一种基站和终端。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 过程 优化 方法 终端 基站 | ||
【主权项】：
一种测量过程优化方法，其特征在于，基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。
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