[发明专利]涡旋流量测量仪、压力传感器和制造压力传感器的方法有效

专利信息
申请号: 201210238590.2 申请日: 2012-07-11
公开(公告)号: CN102879042A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: N.C.弗南德斯;H.克里施;M.刘;S.图尔尼龙 申请(专利权)人: 克洛纳测量技术有限公司
主分类号: G01F1/32 分类号: G01F1/32;G01L11/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 陈浩然;杨国治
地址: 德国杜*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种涡旋流量测量仪、压力传感器和制造压力传感器的方法。涡旋流量测量仪带有测量管、滞流体和压力传感器,其中,压力传感器具有可偏转的测量薄膜,并且测量薄膜的偏转在测量技术上被用以检测邻近测量薄膜的介质中的压力,其中,为了检查测量薄膜的偏转在测量薄膜上和/或在其中布置有至少一个光学纤维,其中,光学纤维在其走向上和/或在测量薄膜中至少部分地与测量薄膜有效地连接,使得测量薄膜的由于介质压力所引起的偏转在有效地连接的区域中导致光学纤维的伸展和/或收缩。压力传感器具有通过介质的压力可偏转的薄膜袋并且薄膜袋包围带有光学纤维的测量薄膜,使得薄膜袋对测量薄膜屏蔽介质并且测量薄膜与薄膜袋一起被偏转。
搜索关键词: 涡旋 流量 测量仪 压力传感器 制造 方法
【主权项】:
一种涡旋流量测量仪(1),其带有可由介质流过的测量管(2)、设置在所述测量管(2)中的滞流体(3)和设置在所述滞流体(3)的有效区域中的压力传感器(4),其中,所述压力传感器(4)具有可偏转的测量薄膜(5),并且所述测量薄膜(5)的偏转在测量技术上被用以检测邻近所述测量薄膜(5)的介质中的压力,其中,为了检查所述测量薄膜(5)的偏转在所述测量薄膜(5)上和/或在其中布置有至少一个光学纤维(7),其中,所述光学纤维(7)在其走向上和/或在所述测量薄膜(5)中至少部分地与所述测量薄膜(5)有效地连接,使得所述测量薄膜(5)的由于介质压力所引起的偏转在有效地连接的区域(8)中导致所述光学纤维(7)的伸展和/或收缩,其特征在于,所述压力传感器(4)具有通过介质的压力可偏转的薄膜袋(9)并且所述薄膜袋(9)包围带有所述光学纤维(7)的所述测量薄膜(5),使得所述薄膜袋(9)对所述测量薄膜(5)屏蔽介质并且所述测量薄膜(5)与所述薄膜袋(9)一起被偏转。
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