[发明专利]一种测定磷矿中痕量锗的方法无效
| 申请号： | 201210247681.2 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN102778447A | 公开（公告）日： | 2012-11-14 |
| 发明（设计）人： | 梅连平;冯晓军;陈晶亮;姜威 | 申请（专利权）人： | 云南磷化集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/75 |
| 代理公司： | 昆明合众智信知识产权事务所 53113 | 代理人： | 范严生;张媛德 |
| 地址： | 650600*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 一种磷矿中痕量锗的测定方法涉及一种检测方法，特别涉及一种测定沉积磷矿石中痕量锗含量的方法。本发明是通过以下方案实现的：a.将磷矿试样0.5～1.0g置于80mL的聚四氟乙烯坩埚中，加几滴水润湿，加入混酸；b.将聚四氟乙烯坩埚置于电热板上，在25～30℃之间逐渐升高200～240℃温度下加热直到冒白烟，保温继续加热5～15min,加入5mL水于电热板上温热浸取，用水移于50mL容量瓶，冷却、定容、混匀后放置过夜以便澄清；c.吸取容量瓶中10～20mL体积的上层清液置于50mL比色管中，加入抗干扰剂，并调节酸度，保持酸度为10%～20%，采用原子荧光光光度计，在载流和还原剂下，锗生成氢化物，测量相应荧光强度，以工作曲线法求出锗含量。本发明操作简单，易于掌握且准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 磷矿 痕量 方法 | ||
【主权项】：
一种测定磷矿中锗含量的方法，其特征在于，其方法为：a.将磷矿试样0.5～1.0g置于80mL的聚四氟乙烯坩埚中，加3～5滴水润湿，加入混酸；b.将聚四氟乙烯坩埚置于电热板上，在25～30℃之间逐渐升高200～240℃温度，加热直到冒白烟，保温继续加热5～15min,加入5mL水于电热板上温热浸取，用水移于50mL容量瓶，冷却、定容、混匀后放置过夜或静置10小时以上以便澄清避免测定堵塞进样系统；c.吸取容量瓶中10～20mL体积的上层清液置于50mL比色管中，加入抗干扰剂，并调节酸度，保持酸浓度体积分数为10%～20%，采用原子荧光光光度计，在载流和还原剂下，锗生成氢化物，测量相应荧光强度，以工作曲线法求出锗含量。
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