[发明专利]测量数据修正方法有效

专利信息
申请号: 201210248982.7 申请日: 2012-07-18
公开(公告)号: CN103575174B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 赵洪涛 申请(专利权)人: 上海潜龙电子科技有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/02
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235 代理人: 杨林洁
地址: 200000 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种数显量具,包括机械测量结构及固定至所述机械测量结构上以输出机械测量结构的测量数据的输出装置。所述输出装置包括与所述机械测量结构连接的传感器、连接传感器的数字测量电路模块、与所述数字测量电路模块连接的显示器以及输入模块。所述输出装置还包括连接在所述数字测量电路模块和显示器之间并保存有调整值以对机械测量结构的测量数据进行修正处理的处理器,从而可有效提高本发明数显量具的测量精度。
搜索关键词: 测量 数据 修正 方法
【主权项】:
一种测量数据修正方法,该测量数据修正方法利用一种数显量具,所述数显量具包括机械测量结构及固定至所述机械测量结构上以输出机械测量结构的测量数据的输出装置,所述输出装置包括与所述机械测量结构连接的传感器、连接传感器的数字测量电路模块、与所述数字测量电路模块连接的显示器以及输入模块,所述输出装置还包括连接在所述数字测量电路模块和显示器之间并保存有调整值以对机械测量结构的测量数据进行修正处理的处理器,其特征在于:所述测量数据修正的方法包括如下步骤,首先,将机械测量结构移动至零点,通过输入模块在处理器中记录机械测量结构处于零点时传感器的零点测量数据x0及真实的零值y0;然后,移动机械测量结构,并通过输入模块在处理器中记录机械测量结构处于各采样点yn时的传感器的测量数据xn,同时利用一标准量块检测所述各采样点的真实数值yn’,并将各采样点的真实数值yn’与传感器的测量数据xn一一对应存储至处理器中;最后,处理器对各测量数据xn与真实数值yn’的采样交集点(xn, yn’)与零点(x0, y0)分别进行线性化处理,同时根据该采样交集点(xn, yn’)与零点(x0, y0)连接线条的线条属性获取对传感器的测量数据进行修正的调整值并进行存储。
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