[发明专利]检测辐射性事件的方法和光学检测系统有效
| 申请号： | 201210249440.1 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN102889877B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | D·K·墨佛得;R·A·史密斯 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01P3/36;G01P15/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于光学检测辐射性事件的相干光纤阵列。该相干光纤阵列具有圆顶状检测表面和平面输出表面。来自辐射性事件的光能在圆顶状检测表面被检测到并被传输到输出表面。当传输来自圆顶状检测的光能时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 辐射性 事件 方法 光学 系统 | ||
【主权项】：
一种检测辐射性事件的方法，所述方法包括利用具有圆顶状检测表面和平面输出表面的相干光纤阵列光学检测来自辐射性事件的光能，电磁辐射在圆顶状检测表面被检测到并被传输到平面输出表面；其中当来自圆顶状检测表面的光能传输到平面输出表面时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性；其中所述方法进一步包括利用焦平面阵列创建相干光纤阵列输出表面的图像；以及处理图像来测量事件的球坐标，其中所述球坐标包括方位角(Θ)和仰角(Φ)。
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