[发明专利]使用无损测厚仪测量楼板厚度的方法有效
申请号: | 201210250458.3 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN102768032A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 付书艳;陈志远 | 申请(专利权)人: | 葛洲坝集团试验检测有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443002*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种使用无损测厚仪测量楼板厚度的方法,包括无损测厚仪,包括以下步骤:一、将无损测厚仪的发射探头固定在楼板的下表面,以发射探头的位置为点A;二、在楼板上表面与发射探头大致对应的位置作三点,即点B、点C和点D;测量线段BC、线段CD和线段BD的长度,将接收探头依次放在点B、点C和点D,由无损测厚仪显示的数据值,分别获得线段AB、线段AC和线段AD的长度;三.计算获得点A至三角形BCD所在平面的距离,该距离即为楼板厚度;通过上述步骤,得到楼板的厚度值。本发明可以快速准确地测量楼板厚度,无需靠被测点周边的墙壁定位,节省了时间,简化了操作;仅靠较少次数的测量,即可获得精确的楼板厚度,获取数据非常快速。 | ||
搜索关键词: | 使用 无损 测厚仪 测量 楼板 厚度 方法 | ||
【主权项】:
一种使用无损测厚仪测量楼板厚度的方法,包括无损测厚仪,其特征是包括以下步骤:一、将无损测厚仪的发射探头(1)固定在楼板(5)的下表面,以发射探头(1)的位置为点A;二、在楼板(5)上表面与发射探头(1)大致对应的位置作三点,即点B、点C和点D;测量线段BC、线段CD和线段BD的长度,将接收探头(2)依次放在点B、点C和点D,由无损测厚仪显示的数据值,分别获得线段AB、线段AC和线段AD的长度;三.计算获得点A至三角形BCD所在平面的距离;通过上述步骤,得到楼板(5)的厚度值。
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